z6com尊龙

    全站
    搜索

    关闭

    功率器件
    功率模块
    功率集成电路
    传感器
    智能控制
    通讯与信号链
    温馨提示
    如需更好的体验效果,请用谷歌、火狐等浏览器打开。
    不,谢谢
    关于我们

    质量管理

    可靠性及失效分析

    z6com尊龙电子具有完善的质量可靠性管理系统、完备的考核设备和工程技术能力,可靠性管理程序覆盖了产品设计、晶圆制造、产品封装、产品认证考核等各个环节,以确保交付给客户产品的可靠性


    可靠性及失效分析备份.png


    考核项目&标准可靠性项目考核要求可靠性实验室设备能力
    项目:晶圆级/封装级/产品级MCBGPIBGISBG润鹏研发中心
    标准:JEDEC/MIL/AEC-Q晶圆工艺封装工艺集成电路功率单管功率模块无锡重庆东莞深圳上海无锡重庆南昌深圳无锡
    GOI (栅氧化层完整性)必须----- - - - - - - 
    TDDB(介质时变击穿)- - - - - - - - 
    HCI(热载子效应)- - - - - - - - 
    VTS(阈值电压稳定性)- - - - - - - - 
    NBTI(负偏压不稳定性)- - - - - - - - 
    EM(电迁移)- - - - - - - - 
    SM(应力迁移)- - - - - - - - 
    Pre-Con(预处理)-必须必须必须必须  - - -  
    TC (温度循环)- - 
    UHAST/PCT(高加速温湿/高压蒸煮)- - 
    THB(高温高湿)- 
    HTSL(高温储存) 
    LTSL (低温储存) - - 
    HTOL (高温工作寿命)IP-必须-IPM- - - -  - 
    ESD(静电放电)--- - - - - - - - 
    LU(闩锁效应)- - - - - - - - - 
    NVCE(NVM擦写耐久性)- - - - - - - - - - 
    HTDR(NVM高温数据保持)- - - - - - -  - 
    HTRB/GB (高温高压反偏/栅偏)-必须-必须必须- - - - 
    H3TRB(高温高湿高压反偏)- - - - - 
    HAST(高加速温湿老化)-- - - - 
    IOL/PC(间歇寿命/功率循环)--- - - - - 


    z6com尊龙电子拥有完备的失效分析能力,配置了可全面覆盖产品设计、晶圆制造、产品封装的失效分析资源,以满足研发和实现产品保证需求


    分析项目设备能力
    MCBGPIBGISBG 润鹏
    SEM (扫描电子显微镜)
    FIB(聚焦式离子束)
    TEM(穿透式电子显微镜)MCBG协同
    EDX(X射线能谱仪)
    AFM(原子力显微镜)
    SRP(扩展电阻仪)MCBG协同MCBG协同
    TXRF(全反射X射线荧光)PIBG协同PIBG协同PIBG协同
    SIMS(二次离子质谱仪)外协外协外协外协
    Auger(俄歇电子)
    Ion Milling(离子束切割)MCBG协同
    SAT(超声扫描)MCBG协同MCBG协同
    X-ray(X射线扫描)MCBG协同MCBG协同
    Curve Tracer(波形显示仪)
    EMMI(微光显微镜)MCBG协同
    OBIRCH(光学诱导电阻)MCBG协同
    Thermo Emission(热成像显微镜)PIBG协同PIBG协同PIBG协同
    Nanoprobe(纳米探针系统)PIBG协同PIBG协同PIBG协同
    ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)MCBG协同
    IC(离子色谱)MCBG协同
    FTIR(傅里叶红外光谱)MCBG协同MCBG协同MCBG协同
    GC-MS(气相质谱)润鹏协同润鹏协同MCBG协同
    VPD(晶圆表面处理)润鹏协同润鹏协同


    说明:MCBG制造服务事业群、PIBG功率集成事业群、ISBG智能传感器事业群

    网站备案